超納米壓痕測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱(chēng): 超納米壓痕測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): UNHT
產(chǎn)品展商: 奧地利安東帕Anton Paar
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
超納米壓痕測(cè)試儀 (UNHT) 用于檢測(cè)納米材料的機(jī)械性能。
超納米壓痕測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
由于 UNHT 采用主動(dòng)式表面參比設(shè)計(jì)，因此幾乎不受熱漂移和框架柔順的影響，并且完全適應(yīng)各種材料的長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量需求，包括聚合物、極薄層和軟組織。
規(guī)格
力：
分辨率 : 3 nN
*大力：100 mN
深度：
分辨率：0.003 nm
*深：100 μm
框架剛度：
>> 108 N/m
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 14577、ASTM E2546 等